鍍層測厚儀X-Strata920  、 CMI900 專用波譜校正片

鍍層測厚儀X-Strata920系列，屬于X射線熒光鍍層厚度測量儀，廣泛應用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產品、汽車零部件、衛(wèi)浴潔具、珠寶等行業(yè)的表面鍍層厚度測量、材料分析；是各類電鍍產品鍍層厚度測量的理想檢測工具。

鍍層測厚儀X-Strata920系列具有高性價價比，有著非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準、測量時間短等特點；具有高生產力、高再現(xiàn)性，能有效控制產品質量，節(jié)約電鍍成本。

鍍層測厚儀X-Strata920工作特點：

l 測量精度高、穩(wěn)定性好，測量結果精確至μin

l 快速無損測量，測量時間短，10秒內得出測量結果

l 可定性、半定量和定量分析

l 進行貴金屬檢測，如Au karat評價

l 材料鑒別和分類檢測，材料和合金元素分析，元素光譜定性分析

l 強大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計、處理功能：平均值、標準偏差、相對標準偏差、大值、小值、數(shù)據(jù)變動范圍、數(shù)據(jù)編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖

l 結果輸出：直接打印或一鍵導出到PDF、Excel文件；報告包含數(shù)據(jù)、圖像、統(tǒng)計圖表、等

l 測量位置預覽功能；高分辨率彩色CCD樣品觀察系統(tǒng)，標準光學放大倍數(shù)為30倍

l 激光對焦和自動對焦功能；單擊鼠標，Z軸自動掃描，鐳射聚焦